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半自动影像测量仪的一些测量技术

发布日期:2019-11-15 作者:华企立方小蜜蜂 点击:

半自动影像测量仪的一些测量技术

图像测量仪器在编程前必须熟悉图纸。在复杂的测量图纸中有许多通用的公差原则,大致可分为:容器要求、最大实体要求、最小实体要求和可逆要求。

包含要求:是以最大实体尺寸为边界,手提式磁粉探伤机控制被测元素的实际尺寸和形状误差的综合结果,即外部作用尺寸不超过最大实体尺寸。

最大实体要求:尺寸公差值为被测元素处于最大实体状态时给出的公差值,由最大实体实际效果边界控制(以MV表示)

元件的尺寸和形状、位置误差的综合结果,以及实际尺寸不得超过极限尺寸。在被测单元的实际轮廓不超过最大实体的实际边界的情况下,允许形状

位置误差值大于尺寸公差值,即允许尺寸公差对形状和位置公差进行补偿。

最大有效立体尺寸的计算公式如下:

轴:V = Dmax +带M的几何公

孔:DMV = Dmin -带M的几何公差

最小实体要求:以产品设计获得最佳技术经济效益为基础。

标记的几何公差值是被测单元处于最小实体状态时给出的公差值。利用最小实体实际效果边界(用LV表示)控制被测单元尺寸和几何误差的综合结果

实际尺寸不得超过极限尺寸。当被测单元的实际轮廓偏离最小盐雾试验机实体尺寸时,允许的形状和位置误差值大于标注的形状和位置公差值,即允许尺寸公差的公差补偿形式和位置是常见的贫穷。

固体最小有效尺寸的计算公式如下:

轴:DLV = Dmin -带M的几何公差

孔:LV = Dmax +几何公差M

将可逆要求应用于最大和最小实体要求:用实际实体尺寸控制被测单元尺寸和形状、位置误差的综合结果。

当被测特征的轮廓不超过最大物理效应边界时,允许被测特征的尺寸公差来补偿其几何公差值。同时,当测得的几何公差值小于标记时

值时,实际大小允许超过其实体大小。

光学检测是利用光学透镜对物体的图像进行扩展,从而准确地评价物体的特性。光学测量是生产制造过程质量控制的重要环节。它包括通过操作者的观察进行快速和主观的检测,以及通过测量仪器进行自动的定量检测。光学测量可以离线进行,即将工件从生产线上取下,送到测试平台进行测量;也可以在线进行,即工件不需要离开生产线;此外,工件还可以在生产线旁进行测试,完成后可快速返回生产线。

所有这些光学测量仪器都以类似于照相机的方式放大图像。龙门式影像测量仪单透镜放大镜放大率固定,限制了其应用范围。例如,很难检测需要扩展更多倍的重要工件细节。如果测量系统能够增大放大倍数,则其应用范围将会扩大。要做到这一点,通常有三种方法-镜头改变,镜头转盘和变焦镜头。

另一种满足放大转换要求的解决方案是使用变焦镜头,这是视频测量系统中常用的方法。通过变焦镜头,操作者可以在低放大率下查看一个视场,然后在需要查看细节部分时将镜头拉近,省去了更换镜头和旋转镜头转盘的麻烦。

这些测量系统在光学性能上都有相同的要求,因为光学性能会影响系统的效率和图像的质量。为了获得最佳的检测效果,这些设备中的光学系统需要提供一个大的工作空间,不失真,并能产生清晰的高对比度图像。


本文网址:http://www.nbdexun.com/news/427.html

关键词:移动桥式坐标测量机,2.5次元测量仪,双用涂层测厚仪

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